Resumo Uma grande porcentagem da atividade econômica na Colômbia corresponde ao setor agrícola. Neste, a banana verde ocupa o segundo lugar em produção e área plantada. No entanto, a plantação é afetada por diversas doenças, dentre as quais se destaca a Sigatoka negra, causada pelo fungo Mycosphaerella fijiensis. A doença reduz muito o nível de produção agrícola e embora existam medidas de prevenção que permitam reduzir sua incidência, falta apoio aos pequenos produtores, que não possuem ferramentas tecnológicas para apoiar os processos de detecção da doença. Este artigo apresenta o desenvolvimento de um sistema de suporte à detecção de Sigatoka negra por meio de imagens digitais. Para isso, é realizado um processo de caracterização do usuário agrícola e, em seguida, implementa-se uma metodologia de aprendizado de máquina para classificar a doença em um dispositivo móvel. O sistema de apoio é validado a partir de testes laboratoriais e de campo e socialização com o usuário agrícola.

Abstract A large percentage of Colombia’s economic activity corresponds to the agricultural sector. In this sector, plantains rank second in production and planted area. However this crop is affected by different diseases, among which The Black Sigatoka stands out, caused by the fungus Mycosphaerella fijiensis. The disease highly reduces the production level of the crop and although there are prevention measures that allow reducing the incidence of the disease, there’s a lack of support for small producers in Colombia, who do not have technological tools to support the disease detection processes. This article outlines the development of a support system for the detection of black sigatoka using digital images. For this, a characterization process of the agricultural user is carried out, then, a machine learning methodology is implemented to classify the disease on a mobile device. The support system is validated through laboratory tests, field tests and the feedback from the agricultural user.

RESUMEN Este documento presenta el diseño e implementación de un módulo experimental de difracción de la luz para un laboratorio remoto, donde se propone un método novedoso para encontrar las distancias del máximo central a los mínimos secundarios del patrón de difracción utilizando las herramientas que proporciona el procesamiento digital de imágenes y la visión por computador. Para la construcción del módulo se utilizó un diodo láser rojo de punto con longitud de onda de 650nm y un sistema de tres rendijas simples y una circular. Para la adquisición de los datos experimentales se utilizó una cámara web Microsoft LifeCam Studio para realizar la captura del patrón de difracción. El software empleado fue LabVIEWTM que se encarga de la captura, el procesamiento y la comunicación entre el servidor y la interfaz. Además, se contactó a la Institución Educativa Matecaña del municipio de Pereira, donde los estudiantes de grado diez y once y los docentes del área de física realizaron el laboratorio en sus salas de sistemas utilizando las TICs como herramientas educativas para el desarrollo de esta práctica. El error en la medición de cada una de las rendijas no supera el 5%.

ABSTRACT This paper presents the design and implementation of an experimental module diffraction of light to a remote laboratory, where a new method is proposed to find the distances from the central maximum to the secondary minimum of the diffraction pattern using the tools provided by digital image processing and computer vision. For the construction of the module has been used a red dot laser diode with 650nm wavelength and a system of three single slits and a circular slit. For the acquisition of experimental data a webcam Microsoft LifeCam has been used to capture the diffraction pattern. The software used was LabVIEWTM which is responsible for the capture, processing and communication between the server and the interface. Furthermore, the Institución Matecaña, an Educational Institution from the municipality of Pereira, implemented the laboratory in their computer rooms by students from tenth and eleventh grade and teachers of the areas of physics, using TICs as educational tools for the development of this practice. The error in the measurement of each of the slits does not exceed 5%.